動態(tài)接觸電阻值 (Dynamic Contact Resistance,DCR)可度量出開關(guān)的實際動態(tài)狀態(tài)，之前已描述的，接觸電阻大多數(shù)由干簧片本身的電阻或引線電阻所組成的。度量磁簧開關(guān)端子間的電阻僅能概略顯示開關(guān)功能是否正常，要提供更詳盡關(guān)于開關(guān)的操作功能，務(wù)必要在動態(tài)情況下觀察量度干簧開關(guān)的操作，這樣才會更為準(zhǔn)確。以50Hz 至200Hz 的頻率范圍去操作開關(guān), 可展現(xiàn)出更多詳盡的訊息，切換0.5伏的電壓及約50mA的電流， 能夠測出潛在的問題。這種測試能以示波器來實現(xiàn)，或者通過些自動測試方式來進(jìn)行數(shù)字化，需特別注意的是應(yīng)避免測試電壓超過0.5 伏,以免產(chǎn)生“貫穿”現(xiàn)象。

        如一個干簧管在制造過程中清潔未能控制好，會殘留些幾個埃厚度的非傳導(dǎo)性薄層，當(dāng)切換非常低的訊號或接近無電流時(在任何電壓或電流流經(jīng)過干簧開關(guān)前，讓干簧管先閉合 )，此薄層就如同斷路一樣，當(dāng)使用高電壓測試時，可能會錯失掉發(fā)現(xiàn)此潛在問題的機(jī)會。

一個典型線路的原理圖用于測量干簧管的動態(tài)電阻

        當(dāng)以50Hz至200Hz頻率加至一線圈上，開關(guān)會在約0.5ms 時動作，這開關(guān)將振蕩約100μs并在0.5 ms的時歷經(jīng)一段動態(tài)噪聲，這動態(tài)噪聲是由開關(guān)不斷振蕩但未開啟時產(chǎn)生的，此時接觸電阻隨著開關(guān)干簧片受到的壓力不同而發(fā)生相應(yīng)的變化。在約0.5 ms或更小的時期，簧片振蕩彈力會出現(xiàn)急速衰減。

一個典型動態(tài)接觸電阻波形圖，顯示初期的閉合，振蕩，動態(tài)噪聲及波動期的擺動狀況

        一旦此動態(tài)噪聲消失，開關(guān)將經(jīng)歷一個“波動期”。此時開關(guān)仍閉合著但維持振蕩至1ms或更長的時間。開關(guān)在磁場下振蕩時，會在簧片間產(chǎn)生電流，一旦停止擺動后, 開關(guān)將呈靜態(tài)狀況。

        由動態(tài)測試所產(chǎn)生的各種波型種類可顯示出磁簧開關(guān)的品質(zhì)水準(zhǔn)，通常，當(dāng)加上線圈電壓后，開關(guān)的動態(tài)狀況應(yīng)在1.5ms 內(nèi)穩(wěn)定下來。若開關(guān)持續(xù)振蕩超過250μs，閉合力會減弱，導(dǎo)致開關(guān)壽命減短，尤其在沒有負(fù)載的情況之下。

一個振蕩過度的動態(tài)接觸電阻波形圖

        如果動態(tài)噪聲或振蕩持續(xù)時間超長，這可能代表干簧管密封不良或應(yīng)力過大。此狀況可能會導(dǎo)致玻璃管產(chǎn)生裂縫或破損，如果振蕩振幅過大，這表示玻璃管可能承受過大應(yīng)力而可能導(dǎo)致裂縫產(chǎn)生。在這狀況下，外界的空氣和水汽可能滲入玻璃管，導(dǎo)致開關(guān)上的污染產(chǎn)生。

動態(tài)噪聲過大時的動態(tài)接觸電阻波形圖, 顯示玻璃管可能應(yīng)力過大或有裂痕的狀況

一個接觸點振蕩過度的動態(tài)接觸電阻波形圖, 顯示玻璃管可能應(yīng)力過大或有裂痕的狀況

        同時，當(dāng)開關(guān)連續(xù)不斷閉合而接觸電阻隨之混亂的小幅變化，這種狀況可能是由污染，密封有裂縫，電鍍層松動或剝落造成，可能會縮短干簧管壽命。

一個磁簧開關(guān)在連續(xù)操作下,  每次接觸電阻都產(chǎn)生改變, 表示觸點有可能受到污染
 

        改變加在線圈上的頻率有時能察覺出更多有關(guān)共振的問題。開關(guān)噪聲或波動的振幅加大或時間加長亦會顯示出類似的問題。